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一、高速調諧器 Tuner|自動阻抗調 諧器的特點：（1）由于嵌入式LXI™控制器在LXI™認證的自動阻抗調諧器上具有先進的電子元件和微處理功能，因此可實現(xiàn)...
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Maury 負載牽引系統(tǒng)2010年，MT1000/MT2000技術作為快的主動負載拉力系統(tǒng)推出，負載拉系統(tǒng)能夠控制阻抗寬帶調制測量實現(xiàn)這些突破測量的系統(tǒng)架構包括以下功能：VNA能夠...
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CDM測試儀,CDM測試設備適用于汽車芯片可靠性測試AEC標準中~靜電CDM測試設備
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日本Hanwa-HED-G5000全自動HBM/MM/Latch-up測試機、HANWA ESD測試機全自動芯片ESD測試設備產品概要：HANWA新一代G5000系列ESD 全自動...
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ESD測試設備,芯片ESD（靜電放電）測試是在半導體可靠性測試期間進行的。ESD測試對于半導體設計的開發(fā)和半導體制造的最終生產過程中的質量保證都是不可少的。HED-W5000M 晶...
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ESD（靜電放電）測試是在半導體可靠性測試期間進行的。ESD測試對于半導體設計的開發(fā)和半導體制造的最終生產過程中的質量保證都是不可少的。HED-W5100D全自動晶圓ESD測試機l...
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芯片ESD測試設備，HED-N5000 全自動ESD測試系統(tǒng)，ESD（靜電放電）測試是在半導體可靠性測試期間進行的。ESD測試對于半導體設計的開發(fā)和半導體制造的生產過程中的質量保證...
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SD（靜電放電）測試是在半導體可靠性測試期間進行的。ESD測試對于半導體設計的開發(fā)和半導體制造的最終生產過程中的質量保證都是不可少的。HANWA HED-T5000 傳輸線脈沖 (...
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芯片ESD測試設備,HANWA HCE-5000ESD測試機是在半導體可靠性測試期間進行的。ESD測試對于半導體設計的開發(fā)和半導體制造的生產過程中的質量保證都是不可少的。
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Hanwa ESD HED-G5000 全自動芯片ESD測試設備近年來，自動駕駛技術逐漸成為Tier1汽車電子智能系統(tǒng)的超前優(yōu)良技術，解決自動駕駛技術的關鍵在于提升自動駕駛芯片的可...
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德國進口晶圓光學檢測設備憑借著多年的行業(yè)經驗及技術積累，我們可以為客戶提供半導體在片測試解決方案、材料電性能測試設備、微波射頻器件測量等測試技術服務。
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半導體光學/共聚焦顯微鏡憑借著多年的行業(yè)經驗及技術積累，我們可以為客戶提供半導體在片測試解決方案、材料電性能測試設備、微波射頻器件測量等測試技術服務。
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GeminiSEM 560 引進了 Gemini 3 型鏡筒，創(chuàng)下了表面成像技術新高度。 Smart Autopilot 這一新型智能自動光路調節(jié)引擎是為方便您使用高分辨率成像 技...
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芯片封裝焊接強度測試儀憑借著多年的行業(yè)經驗及技術積累，我們可以為客戶提供半導體在片測試解決方案、材料電性能測試設備、微波射頻器件測量等測試技術服務。
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掃描電鏡擁有高品質成像和先進分析功能的場發(fā)射掃描電子顯微鏡 Sigma 系列。Sigma 系列產品將場發(fā)射掃描電子顯微鏡技術與良好的用戶體驗緊密地結合在一起。
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emmi微光顯微鏡,ZEISS 光學微光顯微鏡產品特點：具有優(yōu)化的操作理念。擁有更高襯度和更高分辨率的新型光學系統(tǒng)。 基于“向前看”理念的升級設計。
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AM3200是一個有用的脈沖四通和負荷拉應用的儀器。脈沖IV系統(tǒng)用于偏置晶體管近等溫條件，使精確緊湊的建?；顒?。該系統(tǒng)在兩種獨立的電源模式下工作：脈沖電或直流電（連續(xù) 模式）。PI...
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半導體參數(shù)分析儀特點一臺半導體參數(shù)分析儀抵得上多種測量儀器Keysight B1500A 半導體參數(shù)分析儀是一款一體化器件表征分析儀，能夠測量 IV、CV、脈沖/動態(tài) IV 等參數(shù)...
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PNA-X 脈沖網絡儀使用 PNA-X/PNA/PNA-L 可以獲得功能和性能（頻率高達 120 GHz，通過頻率擴展器可以進一步擴展到 1.5 THz）。
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· 擁有最多信號發(fā)生器的型號可供選擇，并且每個型號的性能都同類產品，因此無論您需要可追溯的計量級解決方案，還是需要經濟高效的基礎型信號發(fā)生器，是德科技信號發(fā)生器都可以滿足您的需求。...
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